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【普樂斯】AOI設(shè)備-AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備-Wafer AOI系列

品牌：普樂斯
名稱：AOI設(shè)備-AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備-Wafer AOI系列

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產(chǎn)品特點(diǎn)

1、支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán)

2、2500萬像素分辨率，AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加持
3、自動光學(xué)對焦、位置矯正、物鏡切換
4、簡易程式制作，減輕操作人員負(fù)擔(dān)

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產(chǎn)品參數(shù)

型號	Wafer AOI系列
測試對象	支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán)
載臺	微孔陶瓷X/Y/R
相機(jī)像素	2500萬像素高分辨率
可檢測平面	AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加持
顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)	5輪物鏡轉(zhuǎn)換器，配備2X，5X，10X，20X顯微物鏡
光學(xué)模式	自動光學(xué)對焦，自動位置矯正，自動物鏡切換
計算效率	多服務(wù)器分布式計算提速
控制方式	簡易程式制作，減輕操作人員負(fù)擔(dān)
圖像系統(tǒng)	彩色圖像Review系統(tǒng)
擴(kuò)展升級	擴(kuò)展兼容12英寸晶圓及切割環(huán)

注：以上參數(shù)僅供參考，本公司可能對相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，如有變動，恕不再另行通知。若有不明處，歡迎來電詢問。

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工作原理

AOI檢測技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的背景是電子元件集成度與精細(xì)化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發(fā)展需求，其最大優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力，降低成本，提高生產(chǎn)效率，統(tǒng)一檢測標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾，保證了檢測結(jié)果的穩(wěn)定性，可重復(fù)性和準(zhǔn)確性，及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良，確保出貨質(zhì)量。

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